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EddyCus® map 2530 RMT Mapping Gerät für verschiedenste Anwendungen –
Für hochqualitative Mappings
Der EddyCus® map 2530 RMT für verschiedenste Anwendungen ist ein Tischscanner, der sich besonders für Forschungs- und Technologielabors eignet. Er ist voll funktionsfähig, um eine Reihe von verschiedenen Anwendungen wie Solarwafer, gedruckte Elektronik und Kohlenstofffasern zu messen. Es ist ein kompaktes Gerät, das Proben bis zu 300 mm (12 Zoll) messen kann.
Benefits
- Hochauflösende Bilder mit über 30 000 Messpunkten innerhalb von 4 Minuten für beste Fehlererkennung
- Messung bis an den Rand der Probe
- Verschiedene Analysemöglichkeiten wie Linienprofile oder Histogramm
- Verschiedene Sensoroptionen, um das Gerät optimal an Ihre Messaufgabe anzupassen
- Tension Frame ermöglicht die Anpassung der z-Position des Sensors an die Kontur der Probenoberfläche
Anwendungen
Datenblätter:
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Gedrucke Elektronik Anwendungen
Eine visuelle Inspektion von gedruckter Elektronik reicht nicht aus, um ihre Funktionalität zu gewährleisten. Das EddyCus® map RMT für gemischte Lösungen kann die Integrität gedruckter Elektronik bewerten und Unstimmigkeiten erkennen - selbst wenn, wie in den beiden Bildern unten gezeigt, nach der optischen Inspektion mit bloßem Auge keine Defekte zu erkennen sind.
Beispielfoto und zugehöriger Scan einer gedruckten Elektronik-Teststruktur
Dieses Beispiel zeigt gedruckte elektronische Teststrukturen zusammen mit hochauflösendem Wirbelstrom-Mapping, das mit dem EddyCus® map 2530 RMT für gemischte Anwendungen durchgeführt wurde.
Beispielfoto des gedruckten Geräts und Wirbelstromscan
Dieses Beispiel zeigt gedruckte Geräte mit Defekten. Das Wirbelstrombild wurde mit dem hochauflösenden Wirbelstrom-Kartierungsgerät EddyCus® map 2530 RMT für gemischte Anwendungen erstellt.
Beispielfoto einer gedruckten Feinstruktur und Wirbelstromabbildung
Dieses Beispiel zeigt eine gedruckte Feinstruktur und ihren hochauflösenden Wirbelstromscan.
Solarwafer Anwendungen
- Solarwafer
- Dünnschicht Photovoltaik
- Kristalline Solarzellen
Beispielscan einer kristallinen Solarzelle
Der Scan zeigt die leitenden Strukturen der Solarzelle.
EddyEVA Analysesoftware
Die EddyEVA-Analysesoftware ermöglicht eine eingehende Analyse der Integrität einer Probe.
Einfach zu bedienende Software mit verschiedenen Analyseoptionen
Das EddyCus® map 2530 RMT für Boules, Pucks und Wafers verfügt über eine einfach zu bedienende Software. Nachdem Sie Ihre Probe zentral auf das Messfeld gelegt haben, können Sie
- Rezept wählen
- "Start" drücken
- Der Scan baut sich in der Software auf
Nach Abschluss des Scans können Sie den Analyseprozess starten. Sie werden in der Lage sein
- Linienprofile zu ziehen
- Vordefinierte Linienprofile in X und Y Richtung
- Eigene Linienprofile ziehen
- Ein bestimmtes Gebiet markieren, dass näher untersucht werden will
- Rechteckig
- Kreise
- Freie Auswahl
- Histogramanalyse
Für mehr Informationen sehen Sie sich das Datenblatt an oder kontaktieren Sie uns per E-Mail.
Datenblatt für den EddyCus® map 2530 RMT
| Measurement technology | High frequency eddy current sensor |
| Substrates | Wafer, carbon, pcb, printed electronics |
| Max. scanning area | 12 inch / 300 mm x 300 mm |
| Edge effect correction / exclusion | 2 – 10 mm (depending on size, range, setup and requirements) |
| Max. sample thickness / sensor gap | 40 mm |
| Conductivity range | 0.0005 – 100 Ohm/sq |
| Resistivity range | 0.1 – 1,000 mOhm·cm |
| Conductivity range | 0.01 – 65 MS/m |
| Pitch | 0.1 – 10 mm |
| Accuracy | 1 – 3 % |
| Repeatability | 0.5 – 1.5 % |
| Spot size (coil size) Penetration depth (frequency) |
1 – 9 mm (depending on coil size) 1 – 10 mm (depending on frequency) |
| Speed | 150 mm per second (time 1 to 30 minutes) |
| Device dimensions (w/h/d) / weight | 31.5” x 19.1” x 33.5” / 785 mm x 486 mm x 850 mm / 90 kg |
| Further available features | Sheet resistance imaging, metal layer thickness imaging, advanced impedance spectroscopy using EddyEVA |
