EddyCus® 内嵌式 SLIM – 智能链接集成模块

利用现有网关和链接传输:为其配备测量插件以生成早期测量数据。

什么是智能链接集成模块(SLIM)?

EddyCus®在线式SLIM是一款用于沉积设备的非接触式涡流测量附件。该设备可直接集成于真空接口处,如闸阀、端口或传输连接件。系统能在沉积前后生成线性轮廓图,在目标区域提供即时反馈。

这使得反应时间得以大幅缩短,并能显著减少甚至完全消除测试晶圆的使用。通过持续收集的测量数据,目标磨损和性能退化现象变得清晰可见。

该工具配备两个以传输模式运行的非接触式涡流传感器。此配置可提供基材与导电涂层均匀性的高分辨率信息,即使在传感器间距达50毫米的情况下仍能实现。

该工具通常用于:

  • 面电阻值范围:0.001 – 1,000 欧姆/平方
  • 薄膜金属层厚度范围为5纳米至2毫米。
  • 电阻率 0.1 - 100 mOhm-cm、
  • 温度传感器可用
  • 总厚度为300至1,500微米,以及
  • 弓形偏差±2毫米。

传感器功能

  • 面电阻 [0.001 – 1,000 欧姆/平方]
  • 金属层厚度 [5 纳米 – 2 毫米]
  • 电阻率 [0.1 - 100 欧姆-厘米]

集成点

半保角真空馈通件,例如

  • 阀门
  • 港口
  • 链接

支撑基底

  • 150毫米,
  • 200毫米和
  • 300毫米晶圆

(Si, SiC等)

数据提取

数据传输通过专用盖板
进行,该盖板配备真空等级的馈通装置,
将传感器与控制单元相连。

支持的接口

  • UDP
  • TCP
  • Rest-API
  • Modbus
  • 普罗芬网
  • 模拟/数字

工具集成在线监测系统——EddyCus®在线SLIM的特点与优势

2 – 12 英寸晶圆

非接触式顶部和底部

线型剖面分析

OPSResv它的TTVe.g.

多参数测量

减少测试晶圆的需求

工艺漂移的早期检测

易于使用

无需额外空间用于
测试设备

无需重新认证的简易改造

安装EddyCus在线式SLIM装置快速且非侵入性。只需将现有阀盖替换为带电缆穿孔的盖子。沉积设备保持原位并维持其认证状态。

简易改造工作流程

  • 取下原装外壳 
  • 拆下阀门
  • 将传感器叉插入晶圆传输路径
  • 重新安装阀门
  • 将电缆穿过预留的开口
  • 将带电缆穿线孔的替换盖板安装至控制单元
  • 系统已准备就绪,可进行测量

典型安装时间在一小时内。

腔室内直接工艺控制
用于测试晶圆的还原

涡流在线测量技术将真空沉积工艺从周期性、基于测试晶圆的流程,转变为持续性、数据驱动的自监测系统。通过为实际生产晶圆提供实时厚度反馈,该技术:

  • 缩短资格认证周期
  • 降低测量延迟
  • 最大限度地减少不确定性
  • 无需专用监测和测试晶圆

因此,晶圆厂能够实现更高的吞吐量、更低的拥有成本,并显著减少非生产性晶圆使用,同时保持甚至提升工艺稳定性和均匀性。

涡流检测与四点探针测量结果高度吻合。
点击此处查看详细对比。

图片库

EddyCus®在线式SLIM数据表

系统功能

测量技术 非接触式高频涡流传感器
测量地点 阀门或连杆内的真空安装
基板 晶圆、玻璃等
测量间隙尺寸 15 – 50 毫米(取决于晶圆处理器)
模块尺寸 150 / 200 / 300 毫米
导电层 金属、合金及其他导电层
环境 真空环境下 @ 温度最高可达 220 °C / 428 °F
采样率 每秒1/10/50/100/1,000次测量(线扫描)
硬件触发器 5 / 12 / 24 伏特
接口 UDP、TCP、Rest-API、Modbus、Profinet、模拟/数字

测量能力

板材电阻测量
板材电阻测量范围 0.001 – 1,000 欧姆/平方(取决于间隙尺寸)
金属层厚度测量
金属薄膜厚度测量
(例如:铜、铝、银、金、镍、钛、钽、铂、钨)
5 纳米 – 2 毫米(根据片电阻值)
电阻率测量
电阻率测量范围 根据片电阻

索取报价

您可以使用此表格给我们留言。

常见问题

  • 板材阻力
  • 金属层厚度
  • 电阻率
  • 150毫米,
  • 200毫米和
  • 300毫米样品
  • 2–4英寸晶圆通过适配器
  • 片电阻线轮廓
  • 金属层厚度线轮廓
  • 电阻率剖面图