导言
多种材料特性决定了材料的导电性。除成分外,其结构和纯度同样影响导电性。EddyCus® map 2530RMB是一款漩涡电流成像系统,专用于高分辨率导电性成像及相关特性检测,可揭示材料属性、效应与缺陷。 该系统可配备多种EddyCus传感器,通过差分探头实现高分辨率或高穿透率的导电率成像及缺陷检测。系统支持生成表面图像(涡流C扫描),测量间距范围为100微米至10毫米。 三轴系统可扫描最大220×220毫米/8×8英寸的2D及2.5D区域。典型应用涵盖导电材料(如碳化硅、石墨、金属、合金或钢板及其他导电半成品)的表面特性分析,同时适用于印刷电子元件及层状结构的电气完整性检测。
涡流检测可量化材料的导电率[IACS或MS/m]或电阻率[欧姆·米]。材料的导电率能反映其特性,例如材料类型及成分均匀性。除直接反映电学特性外,导电率还包含与热学特性、力学特性及结构完整性相关的信息。
该设备通常用于
- 测量范围:0.01 – 65 MS/m(0.1 – 110 % IACS)
- 样品尺寸:50 x 50 毫米至 300 x 300 毫米
- 形状:平面与曲面
- 专用于特定测量任务的可更换传感器
- 根据样品尺寸定制样品托架的布局和形状
- 数据分析、导出和报告功能
传感器功能
- 电阻率 [0.1 – 1,000 毫欧姆·厘米]
- 面电阻 [0.00005 – 100 欧姆/平方]
- 金属层厚度 [通过转换或直接校准]
支持的样品厚度
2 - 4 毫米固定传感器(可根据要求定制)
支撑基底
箔、玻璃、晶片、太阳能晶片等
- 每个样品的最大高度为200毫米
- 每个样品的最大直径为300毫米
- 最大重量5千克(取决于直径)
测量领域
- 样品尺寸范围为50毫米×50毫米至300毫米×300毫米。
- 最大测量区域 220 毫米 × 220 毫米
带有便于定位的标记。
功能和优点
2–12英寸球体、圆盘、锭块及晶片
5 – 200 毫米 圆坯、圆饼、锭坯厚度
各种分析选项
快速结果
高分辨率映射
易于使用
3D 查看器
一台设备,多种测量参数
EddyCus® 2530 RMB 测绘仪可测量多种参数。电阻率与面电阻及金属层厚度呈相关性。只要材料特性明确,所有这些参数均可实现精准测量。
- 电阻率
- 电导率
- 板材阻力
- 金属层厚度
EddyCus®地图视频 2530元
该视频向您展示了如何使用价值2530元人民币的地图,说明了可分析的材料种类以及设备的基本工作原理。
EddyCus® 2530 RMB 数据表
设备功能
| 测量技术 | 高频涡流传感器 |
| 基板 | 球体、圆盘、锭块、晶片(平坦、略微弯曲) |
| 基底面积 | 12 英寸 / 300 毫米 x 300 毫米(可根据要求提供更大尺寸) |
| 活动区域 | 8英寸/220毫米×220毫米(可按要求定制更大尺寸) |
| 边缘效应修正/排除 | 2 - 10 毫米(取决于尺寸、范围、设置和要求) |
| 最大样品厚度 | 200毫米(最大5千克) |
| 扫描间距 | 0.1 / 1 / 2.5 / 5 / 10 / 25 毫米(其他规格可定制) |
| 速度 | 每秒400毫米(时间范围1至30分钟) |
| 模式 | 接触式与非接触式 |
| 可用的测量功能 | 电阻率成像 电导率成像 面电阻成像 金属厚度成像 电学各向异性图 |
| 设备尺寸(W/H/D) | 31.5 英寸 x 19.1 英寸 x 33.5 英寸 / 785 毫米 x 486 毫米 x 850 毫米 |
| 重量 | 90 公斤 |
测量能力
| 电阻率测量 | |
|---|---|
| 电阻率测量范围 |
0.1 – 1 毫欧·厘米;2 – 5 % 精度 1 – 10 毫欧·厘米; 精度1–3% 10–30毫欧姆·厘米;精度1–3% 30–100毫欧姆·厘米;精度1–3% 100–1,000毫欧姆·厘米;精度3–5% |
板材电阻测量 |
| 板材电阻测量范围 |
0.05 – 0.1 毫欧/平方;1 – 2 % 精度 0.1 – 10 毫欧/平方;1 – 2 % 精度 10 – 100 毫欧/平方;1 – 2 % 精度 100 – 1,000 毫欧/平方;精度 1 – 2% 1,000 – 10,000 毫欧/平方;精度 1 – 2% 10,000 – 100,000 毫欧/平方;精度 3 – 5% |
金属层厚度测量 |
|
金属层厚度测量范围 |
通过转换或直接校准进行金属厚度测量 |





