非接触式薄片电阻和
金属层厚度绘图设备

通过快速、精确、非接触式测绘提高薄膜和基片质量。该设备可精确测量晶片、箔、玻璃和金属化层的薄层电阻和相关参数。

导言

EddyCus® map 2530 TM系列以非接触模式自动测量大型样品的片状电阻,最大可达 300 × 300 平方毫米(12 × 12 英寸)。手动放置样品后,系统会执行全自动扫描,并生成整个表面的高分辨率薄层电阻图。

该工具使用静止的涡流传感器,而样品台则可移动以进行扫描。这种设计可以不需要物理接触的情况下进行测量,消除了接触电阻造成的误差。根据所选设置,用户可以优先考虑快速测量时间(1 分钟以内)或高空间分辨率(每次扫描多达90,000 个测量点)。

非接触式测量确保了高精度和可重复性,不受表面状况或接触质量的影响。密集的测量网格能够可靠地检测材料变化、不均匀性和缺陷。附带的软件提供各种先进的分析工具,支持在生产和研究环境中对薄膜进行系统的质量控制。

该设备通常用于

  • 技术:非接触式涡流
  • 多点测绘成像
  • 取样区域:300 x 300 毫米
  • 建议的样品尺寸:1 英寸至 12 英寸或 25 至 300 毫米

传感器功能

  • 片状电阻 [0.00005 - 300,000 欧姆/平方英寸]
  • 金属层厚度 [1 纳米 - 100 微米]
  • 电阻率 [取决于板材电阻]
  • 电各向异性 [0.33 - 3]

支持的样品厚度

2 - 4 毫米固定传感器(可根据要求定制)

支撑基底

箔、玻璃、晶片、太阳能晶片等

每个样品最大高度为 4 毫米

测量领域

样品尺寸在 25 毫米 x 25 毫米和 300 毫米 x 300 毫米之间。

带有便于定位的标记。

可拆卸晶片架

精确测量需要精确的中心定位。
为了方便对中,我们提供了可拆卸的晶圆支架
,可与各种尺寸的晶圆兼容。

材料:PEEK
定制尺寸在 2 英寸 - 300 毫米之间

功能和优点

2 - 12 英寸

6 个十年

各种分析选项

快速结果

高分辨率映射

易于使用

3D 查看器

一台设备,多种测量参数

EddyCus® map 2530 TM能够测量多个参数。薄板电阻与金属层厚度、发射率、电阻率和导电率相关。只要已知材料特性,就能高精度地测量所有这些参数。此外,该设备还能确定薄片电阻的各向异性。

软件和设备控制

  • 非常方便用户使用的软件
  • 实时绘图测量
  • 易于使用的统计分析选项
  • 预定义的测量和产品配方(尺寸、间距、阈值)
  • 线性扫描、直方图和区域分析
  • 黑色和彩色图像编码
  • 导出 Csv 和 pdf
  • PC 摘要和导出
  • 3 用户级别
  • 参数材料数据库
  • 转化
  • 边缘效应补偿
  • 存储和导入数据
  • 导出数据集(如导出至 EddyEva、MS Excel、Origin)

EddyCus® 地图 2530 TM 的视频

通过视频,您可以了解如何使用 map 2530 TM。可以分析哪些材料以及设备的总体工作原理。

图片库

EddyCus® 地图 2530 TM 的数据表

设备功能

测量技术 非接触式涡流传感器
基板 晶片、玻璃、箔等。
基底面积 12 英寸 / 300 毫米 x 300 毫米(可根据要求提供更大尺寸)
最大样品厚度/传感器间隙 3 / 5 / 10 / 15 毫米(以最厚样品为准)
扫描间距 1 / 2.5 / 5 / 10 / 25 毫米(根据要求提供其他规格)
每次测量点(正方形样本) 0.5 分钟内 100 个测量点
3 分钟内 10,000 个测量点
扫描时间

扫描时间取决于样品的大小和间距。

8 英寸/200 毫米 x 200 毫米,1 至 10 分钟(1 - 10 毫米间距)
12 英寸/300 毫米 x 300 毫米,2 至 6 分钟完成(2.5 - 25 毫米间距)
可用的测量功能 薄层电阻图
金属层厚度图
电阻率图
传导率图
电各向异性图
发射率图
设备尺寸(W/H/D) 31.5 英寸 x 19.1 英寸 x 33.5 英寸 / 785 毫米 x 486 毫米 x 850 毫米
重量 90 公斤

测量能力

板材电阻测量
板材电阻测量范围
(提供四种传感器设置)
极低:0.05 - 300 mOhm/sq;1 - 3 % 精度
低: 0.001 - 100 欧姆/平方;1 - 3 % 精度
宽范围:0.001 - 20,000 欧姆/平方;1 - 5 % 精度
高: 100 - 300,000 欧姆/平方;1 - 5 % 精度
金属膜(如铜)厚度测量范围 2 nm - 2 mm(根据板材电阻(参见我们的计算器)
金属层厚度测量
金属厚度范围
精度取决于所选设置和金属类型/导电率(如铜、铝、银)。
导电性(例如铜、铝、银)
低精度 1 - 10 纳米;精度 2 - 5
标准 10 - 1,000 纳米;精度 1 - 3
高 1 - 100 µm;0.5 - 3 % 精度
板材电阻测量范围 0.1 欧姆/平方 - 100,000 欧姆/平方
电阻率测量
电阻率测量范围 根据板材电阻和层厚(参见我们的计算器))
电各向异性测量
板材电阻范围 0.01 - 1,000 欧姆/平方;精度 1 - 5
各向异性范围(TD/MD) 0.33 - 3(可根据要求加大)
多参数测量
测量类型 湿厚度(微米)/重量(克/平方米)/干燥状态(百分比)
电导率/电阻率(毫欧厘米)/渗透率(氢/米) Beta
介电常数(F/m) Beta
测量范围/精度 取决于测量任务、材料成分和测试对象体积。请咨询 SURAGUS 团队