重量和克重测量
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涡流法涂层重量测量
导电涂层的重量通常通过非接触式涡流薄膜传感器进行测量。该技术通过在导电涂层中感应涡流，使其产生电磁场（EMF），该电磁场可由EMF检测器或涡流传感器直接测量。 所获信号与材料用量相关，而材料用量又与涂层重量成正比。该方法作为"切片法"的替代方案，具有非破坏性特点，无需样品制备即可测得导电材料重量。其优势包括：
- 非接触式与接触式模式
- 高速测量助力工业生产力提升
- 高重复性和准确性
- 传感器至基板距离最大可达45毫米
- 便携式检测方案
- 禁止穿着
基于重量的薄膜与材料描述术语
不同行业根据沉积工艺和基材，使用不同的术语来描述单位面积的重量。这些术语包括：
- 克重（同义词：面积重量）：克重是纸张、纤维或纺织品行业中常用的单位面积质量指标。
- 基重或纤维面积重量（亦称FAW）：技术纺织行业常用术语，用于描述编织与非编织材料上碳纤维或玻璃纤维材料的含量。
- 涂层重量（同义词：涂覆重量、沉积重量）：在湿法及湿化学沉积工艺中，涂层重量指单位表面积基材上所施加的涂层量。
重量单位
尽管克重术语各不相同，它们都描述了单位面积内添加材料的重量。 这种描述方式历史悠久，自天平问世数千年来便沿用至今。它属于物理量范畴，其计量单位为[质量]的[长度]次方。最常见的计量单位包括：g/m²（克每平方米）、kg/m²（千克每平方米）、oz/ft²（盎司每平方英尺）或oz/yd²（盎司每平方码）。
重量测量技术
破坏性的"切片法"被应用于多个行业领域。该方法从待测材料的一个或多个位置取下尺寸约为100平方毫米的切片。在某些情况下，若仅需测定材料特定部分的重量，则通过化学分离或清洗工艺进行分离，并在分离前后分别测量样品重量。
无损检测方法通过绝对厚度测量（例如激光三角测量、共聚焦显微镜或近红外吸收法）实现厚度与重量的关联。另一种技术采用基于β射线透射的设备，此类设备需投入大量资本支出（CAPEX）并采取相应安全措施。最优解决方案取决于材料特性（电学、光学及X射线吸收特性）。具体技术选型将在厚度测量章节中详述。
沉积工艺与测量位置
涂层工艺根据应用场景及需求，可采用真空、大气等离子或湿法工艺。特别是湿法工艺（如狭缝模头涂布、刮刀涂布、浆料涂布或旋涂）需监测面积重量或涂层重量，以最终实现电学、离子或机械性能目标。 工艺运行模式涵盖卷对卷（R2R）与片对片（S2S）。基材涵盖纸张、织物与非织造布、薄膜、聚合物或塑料、玻璃及金属片材。面积重量测量在关键制造步骤之后或步骤间进行，工艺可能包含涂覆、干燥或压延工序。
用于重量和克重测量的测试设备
工业与研发实验室根据每日测量样本数量、测量点密度及自动化程度存在不同需求。因此，通常应用四种关键测试类型：
- 手持式
- 实验室 / 台式
- 单点
- 成像
- 内嵌式 / 工具集成式
- 内嵌式静态单/多传感器
- 内联遍历
- 机器人/工具集成