Projekt: METROPRO

Prozessnahe Metrologie von hochproduktiven Vakuummetallsierungsprozessen auf bis zu 300 mm Wafern

  • Entwicklung berührungsloser in-situ Messlösungen für elektrische Eigenschaften von Metallschichten mittels Wirbelstrommessung
  • Anwendungen in Halbleitertechnik, Quantensystemen, Frequenzfiltern und kristallinem Schichtwachstum
  • Stärkung der internationalen Wettbewerbsposition sächsischer Unternehmen
  • Retrofit bestehender Anlagen und Integration in Neuanlagen
  • Erhöhung der Qualitätssicherung und des Automatisierungsgrads

Projektlaufzeit: 01.07.2025 – 31.12.2027